Система измерения фликкер-шума 3001B

Система измерения фликкер-шума 3001B

Позволяет проводить измерения параметров полупроводников: FET (CMOS, HVMOS, OTFT, и т.д.), BJT, диодов, резисторов и других устройств как на пластине, так и в виде дискретных компонентов.

Технические характеристики:

  • Диапазон частот: 1 Гц - 100 кГц
  • Смещение по постоянному току: ±50В, ±50мА (зависет от анализатора постоянного тока)
  • Шум при использовании малошумящего усилителя: 17 нВ/√Hz на 1 Гц, 2 нВ/√Hz на 100 Гц, 1,9 нВ/√Hz на 1 кГц
  • Шум тока: менее 50 фА/√Hz

Расширенное техническое описание

Компания также предоставляет следующие услуги:

  • Вы ставите нам задачу по измерениям, мы подбираем для Вас несколько вариантов ее решения с обоснованием каждого варианта.
  • Комплектуем измерительную систему в соответствии с Вашими требованиями и предоставляем спецификацию и/или техническое задание, технико-коммерческое предложение.
  • Проводим для Вас демонстрацию работы системы и предоставляем Вам возможность провести тестовые измерения.
  • Предоставим Вам оборудование во временное пользование, если срок поставки заказанного Вами оборудования не удовлетворяет Вашим требованиям по сроку поставки.
  • Проведем первичную поверку и пуско-наладку поставленной измерительной системы.
  • Обучим Ваш персонал работе на поставленном оборудовании.
  • В течение гарантийного срока обеспечим быстрый и качественный ремонт Вашего оборудования. По запросу заказчика, подтвердим качество ремонта свидетельством о поверке.
  • Ответим на все Ваши вопросы, возникающие в процессе эксплуатации приборов.
  • Проконсультируем по вопросам выбора программного обеспечения САПР для ВЧ/СВЧ устройств и систем моделирования, поставим ПО САПР и окажем техническую поддержку.
  • Обеспечим расширение возможностей имеющегося у Вас оборудования за счет поставки обновления микропрограммного обеспечения.
  • Мы работаем на рынке контрольно-измерительного оборудования уже более 15-ти лет и рассчитываем на долгосрочное сотрудничество с нашими заказчиками.