AdMOS: новая система измерения фликкер-шума 3001B
24.03.2016
AdMOS: новая система измерения фликер-шума 3001B.
Компания AdMOS (http://www.admos.de/en/), Германия – разработчик ПО для анализа моделей полупроводников, представила свою новую систему измерения фликер-шума 3001В. Большой опыт работы компании в области создания моделей полупроводниковых устройств позволил AdMOS воплотить в компактной измерительной системе всё необходимое для измерений параметров электронных устройств с целью создания высококачественных шумовых моделей учитывающих 1/f-шум (фликер-шум).
Система измерения фликер-шума 3001В состоит из блока фильтров, располагаемого близко к тестируемому устройству и блока управления, обеспечивающего связь с управляющим компьютером, с установленным на нем специальным ПО разработки компании AdMOS в формате IC-CAP. Подобное решение позволяет минимизировать искажения и увеличить точность измерений фликер-шума.
Система 3001В позволяет измерять параметры полупроводников: FET (CMOS, HVMOS, OTFT и т.д.), BJT, диодов, резисторов и других устройств как на пластине, так и в виде дискретных компонентов. Более того, параметры таких схем как операционные усилители также могут быть измерены при помощи системы 3001B.
Для работы системы измерения фликер-шума 3001В необходимы внешние источники-анализаторы постоянного тока, динамический анализатор спектра (например, производства Stanford Research Systems, США), ПК с ОС Windows 7/8/10.
Компания AdMOS также оказывает услуги заказчикам по проведению измерений тестовых структур заказчика, по генерации моделей полупроводниковых структур с учетом ВЧ эффектов, по экстракции параметров из измеренных данных, проводит тренинги и технические консультации по моделированию на IC-CAP с учетом ВЧ эффектов и работе с пакетом BSIM3 для IC-CAP по экстракции КМОП ВЧ (CMOS RF).
Для более подробной информации: смотрите здесь.