Keysight Technologies: современные системы внутрисхемного тестирования для исключения брака при производстве РЭА
23.10.2020
В настоящее время многие производители запускают линии монтажа РЭА, ориентированные на выпуск серийной гражданской продукции, к примеру, «умные» счетчики. Обеспечение высокого качества продукции и минимизация уровня брака являются основными задачами при развертывании подобных производств. Если при небольших сериях процесс отладки и тестирования готовой продукции делается вручную, то на сериях от 25 000 изделий в год, такой подход будет слишком затратным. Поэтому контроль качества необходимо осуществлять непосредственно в процессе производства. Для этого современные линии монтажа оснащаются, как правило, системами оптического или оптического и рентген-контроля изделий.
Однако, есть еще один метод контроля, дополняющий эти методы и позволяющий говорить о реальном производстве с «нулевым» уровнем брака. Это ICT - электрическое или внутрисхемное тестирование (In-Circuit Testing), обеспечивающее быструю (секунды) полную «прозвонку» всех соединений на собранной плате, что позволяет обнаружить такие дефекты как КЗ на плате, отсутствие, неправильный номинал или неправильная полярность установки компонентов, непропаянные выводы. ICT также позволяет проводить проверку номиналов/полярности пассивных компонентов, программирование памяти/микроконтроллера(ов) на плате и ряд других действий.
Кейсайт предлагает три варианта систем ICT тестирования:
- Medalist i3070 - платформа высшего класса для быстрого тестирования сложных плат в больших количествах - до 5184 точек контроля.
- Medalist i1000 - автономные и встраиваемые в линию системы среднего класса - до 3456 точек контроля
- N1125A - Анализатор граничного сканирования x1149 предназначен для тестирования плат, содержащих микросхемы с интерфейсом JTAG.
Краткая презентация решений предлагаемых Keysight: